![]() ![]() |
![]() ![]() |
![]() ![]() |
![]() ![]() |
![]() ![]() |
![]() ![]() |
![]() ![]() |
![]() ![]() |
![]() ![]() |
![]() ![]() |
![]() ![]() |
![]() ![]() |
> (多少マージンを見るにしても、実際にあり得ない条件で試験して意味あるのかなという気がして) 信頼性の試験は、本来長期間かかる実験をありえない条件下で試験を行うことでデバイスを短期間に劣化させるのが目的です。通常の条件で試験に何年もかけるわけには行かないですもんね。 その後見つけたページですが、現在の推奨の規格としては「温度60℃、湿度85%、96時間、(1000V)」があり、パナソニックとシャープは合格しているようです。 http://www.nikkan.co.jp/dennavi/topix/nkx20120822qtka.html やはりメーカーの「PID試験に合格」という言葉だけ鵜呑みにせずにその条件も聞くように心がけるべきですね。 [No.2181] 2012/11/19(Mon) 00:32:38 |