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No.2182へ返信

all PID試験について [業界経験者] - ふう - 2012/11/18(Sun) 01:21:14 [No.2176]
Re: PID試験について - ふう - 2012/11/25(Sun) 14:07:06 [No.2196]
Re: PID試験について [設置済み] - 管理人 - 2012/11/25(Sun) 23:58:54 [No.2203]
Re: PID試験について - hiroh1 - 2012/11/21(Wed) 23:22:52 [No.2185]
Re: PID試験について [設置済み] - 管理人 - 2012/11/18(Sun) 13:44:29 [No.2179]
Re: PID試験について - ふう - 2012/11/19(Mon) 00:32:38 [No.2181]
Re: PID試験について [設置済み] - 管理人 - 2012/11/19(Mon) 01:26:52 [No.2182]
Re: PID試験について [設置済み] - akibow - 2012/11/19(Mon) 09:53:22 [No.2183]
Re: PID試験について [設置済み] - 管理人 - 2012/11/19(Mon) 21:10:23 [No.2184]
Re: PID試験について [設置済み] - ベルメゾン - 2012/11/18(Sun) 10:23:51 [No.2178]
Re: PID試験について - ふう - 2012/11/19(Mon) 00:13:32 [No.2180]
Re: PID試験について - KIKU - 2012/11/18(Sun) 06:35:09 [No.2177]


Re: PID試験について (No.2181 への返信) [設置済み] - 管理人

こんばんは。管理人です。

> > (多少マージンを見るにしても、実際にあり得ない条件で試験して意味あるのかなという気がして)
>
> 信頼性の試験は、本来長期間かかる実験をありえない条件下で試験を行うことでデバイスを短期間に
> 劣化させるのが目的です。通常の条件で試験に何年もかけるわけには行かないですもんね。
>

私も技術屋の端くれなので、強制劣化試験の意味合いは理解しているつもりです。
ただ、本来は、それぞれの条件をどのくらい厳しくすると、どの程度劣化を加速しているか、
所定の関係が成り立っているとの前提に基づいて行うべきものと考えますが、このケースでは
その関係が検証されているのかなぁ、と疑問を持った次第です。
単純な化学反応に基づく劣化などは、温度と劣化の加速度合いが単純に関係づけられますが、
そうでもないケースは多々あります。
私自身、2つの異なる温度で行った強制劣化試験の結果が、大きく矛盾してしまったという
失敗を何度か経験しているので・・・。
特に電圧の高さと劣化との関係がピンと来ないんですよねぇ。電圧に比例で良いのでしょうか?


[No.2182] 2012/11/19(Mon) 01:26:52

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